Como analisar dados de AFM
AFM mede topografia e propriedades locais de superfícies usando uma ponta nanométrica. Ele é usado para rugosidade, altura de filmes, morfologia de dominios, defeitos, partículas sobre superfície e, em modos especificos, propriedades mecânicas, elétricas ou adesivas.\n\nA grande vantagem é medir altura real em escala nano sem precisar de vácuo em muitos casos. A grande armadilha é que a imagem também inclui artefatos da ponta, do scanner e do processamento de nivelamento.
Analisar manualmente exige limpar dados, escolher escala, padronizar graficos, interpretar parametros e evitar artefatos.
O que e AFM?
AFM mede topografia e propriedades locais de superfícies usando uma ponta nanométrica. Ele é usado para rugosidade, altura de filmes, morfologia de dominios, defeitos, partículas sobre superfície e, em modos especificos, propriedades mecânicas, elétricas ou adesivas.\n\nA grande vantagem é medir altura real em escala nano sem precisar de vácuo em muitos casos. A grande armadilha é que a imagem também inclui artefatos da ponta, do scanner e do processamento de nivelamento.
Como interpretar os dados
Revise eixos, unidades, faixa de medicao, baseline, picos, distribuicoes, replicatas e criterios estatisticos de acordo com a tecnica.
Do manual ao automatico
Esse processo pode ser automatizado utilizando o Arsenium Lab, que permite upload de dados, geracao automatica de graficos e interpretacao assistida.